Analisis parameter Scaterring Matrix pada heterojunction bipolar transistor silicon-Germanium (HBT) si/si 1-x Gex berdasarkan pengaturan mole fraction

Main Author: A.Tossin Alamsyah (-)
Corporate Authors: Politeknik Negeri Jakarta (-)
Other Authors: Danang Wijayanto
Format: Book
Bahasa: ind
Terbitan: , 2013
LEADER 01002cam a2200289 a 4500
001 INLIS000000000619832
005 20141014125131.0
006 a####g#b###z00010#
007 ta
008 141014s2007####jii####g#b###z00010#ind##
035 # # |a 0010-1014005242 
040 # # |a JKPNPNA  |b ind 
090 # # |a CB[G]-D.10 2013-1399/1149-2014 
100 0 # |a A.Tossin Alamsyah 
245 1 0 |a Analisis parameter Scaterring Matrix pada heterojunction bipolar transistor silicon-Germanium (HBT) si/si 1-x Gex berdasarkan pengaturan mole fraction /  |c A.Tossin Alamsyah, Danang Wijayanto 
260 # # |c 2013 
300 # # |a viii, 45 lembar + lamp:  |b ilus ;  |c 28 cm. 
500 # # |a Penelitian disahkan oleh Ketua Pusat Penelitian dan Pengabdian Politeknik Negeri Jakarta 
500 # # |a Tahun ke 1 dari rencana 2 tahun 
504 # # |a Bibliografi : lembar 45 
700 0 # |a A.Tossin Alamsyah 
700 0 # |a Danang Wijayanto 
710 2 # |a Politeknik Negeri Jakarta 
850 # # |a JKPNPNA 
850 # # |a 1149/DM[G]/D/2014