APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT
| Main Authors: | Rismana, Eriawan, Nur, Hadi, Endud, Salasiah |
|---|---|
| Format: | Article info application/pdf eJournal |
| Bahasa: | ind |
| Terbitan: |
Center for Science & Technology of Advanced Materials - National Nuclear Energy Agency
, 2018
|
| Subjects: | |
| Online Access: |
http://jurnal.batan.go.id/index.php/jsmi/article/view/4713 http://jurnal.batan.go.id/index.php/jsmi/article/view/4713/4088 |
Daftar Isi:
- APLIKASI DIFRAKSI SINAR-X UNTUK KARAKTERISASI CdS/POLIMER NANO KOMPOSIT DAN STABILITAS CdS/APTMS-Al-MCM-41 NANO KOMPOSIT. Karakterisasi nanopartikel Kadmium Sulfida (CdS) pada nanokomposit CdS/Polimer dan stabilitas pola difraktogramstruktur mesopori dariAl-MCM-41 pada nanokomposit CdS/APTMS-Al-MCM-41 telah dilakukan denganmenggunakan teknik difraksi sinar-X. Polimer yang digunakan adalah poli(steren-divinilbenzen) tersulfonasi [SO3H-P(S-DVB)]. Keberadaan nano partikel CdS dalam CdS/SO3H-P(S-DVB) ditunjukkan oleh adanya puncak lebar pada difraktogram di posisi 2θ = 26,40° ; 43,75° dan 52,00° yang sesuai dengan pola difraktogram CdS nano bentuk kubik (111), (220) dan (311). Sedangkan stabilitas pola difraktogramdari CdS/APTMS-Al-MCM-41 ditunjukkan oleh adanya puncak tajam pada difraktogram di posisi 2θ = 2,1° (100) dan 3 puncak lemah di 2θ = 3,7° (110), 4,3° (200) dan 5,5° (210) yang menunjukkan pola difraktogram Al-MCM-41 sebagai matriks host dari CdS/APTMS-Al-MCM-41.