PENENTUAN CACAT KRISTAL PADA KRISTAL TUNGGAL SILIKON YANG DITUMBUHKAN DENGAN METODE CZOCHRALSKI
| Main Author: | Ainul Huri, NIM. 089110889 |
|---|---|
| Format: | Thesis NonPeerReviewed Book |
| Bahasa: | ind |
| Terbitan: |
, 1996
|
| Subjects: | |
| Online Access: |
http://repository.unair.ac.id/60045/1/KKC%20KK%20MPF%20566_96%20Hur%20p.pdf http://repository.unair.ac.id/60045/ http://lib.unair.ac.id |
Daftar Isi:
- Pengamatan karakteristik fisika dari suatu kristal dapat dilakukan dengan mengamati struktur dari kristal, yaitu dengan mengamati cacat kristal. Pengamatan cacat kristal dapat dilakukan dengan beberapa cara, salah satu di antaranya adalah dengan metode Etch Pits.