Pergeseran 2θ pada Pola Difraksi Sinar-X Mg1-xNixF1,985(OH)0,015 Akibat Variasi x
| Main Authors: | Arganata, Mohammad Irfan; Institut Teknologi Sepuluh Nopember, Murwani, Irmina Kris; Institut Teknologi Sepuluh Nopember |
|---|---|
| Other Authors: | Humbolt University, Berlin |
| Format: | Article info application/pdf eJournal |
| Bahasa: | eng |
| Terbitan: |
Lembaga Penelitian dan Pengabdian Kepada Masyarakat (LPPM), ITS
, 2017
|
| Subjects: | |
| Online Access: |
http://ejurnal.its.ac.id/index.php/sains_seni/article/view/27649 http://ejurnal.its.ac.id/index.php/sains_seni/article/view/27649/4534 |
Daftar Isi:
- Pada penelitian ini telah dilakukan sintesis Mg1‐xNixF1,985(OH)0,015 (x= 0; 0,025; 0,050; 0,075; 0,100; 0,150) dengan metode sol-gel. Struktur kristal padatan dikarakterisasi dengan Difraksi Sinar-X (XRD). Hasil XRD menunjukkan bahwa semua padatan Mg1‐xNixF1,985(OH)0,015 memiliki struktur tetragonal. Pada pola difraksi hasil karakterisasi Mg1-xNixF1,985(OH)0,015 menunjukkan tidak ditemukan puncak-puncak khas NiO. Modifikasi doping pada MgF1,985(OH)0,015 menunjukkan adanya pergeseran 2θ. Pergeseran terjadi pada 2θ tiga puncak utama yaitu 27,050-27,400, 40,300-40,557 dan 53,500-53,850.