Prediksi Masa Kedaluwarsa Wafer dengan Artificial Neural Network (ANN) Berdasarkan Parameter Nilai Kapasitansi

Main Authors: Saleh, Erna Rusliana Muhamad, Noor, Erliza, Djatna, Taufik, Irzaman, Irzaman
Format: Article info application/pdf
Bahasa: eng
Terbitan: Faculty of Agricultural Technology, Universitas Gadjah Mada, Yogyakarta, Indonesia , 2014
Subjects:
Online Access: https://jurnal.ugm.ac.id/agritech/article/view/9541
https://jurnal.ugm.ac.id/agritech/article/view/9541/7116

Internet

https://jurnal.ugm.ac.id/agritech/article/view/9541
https://jurnal.ugm.ac.id/agritech/article/view/9541/7116

Lokasi

Koleksi Jurnal Agritech Fakultas Teknologi Pertanian UGM
Gedung Perpustakaan Pusat Universitas Gadjah Mada
Institusi Universitas Gadjah Mada
Kota SLEMAN
Provinsi DAERAH ISTIMEWA YOGYAKARTA
Kontak Butuh informasi lebih lanjut? Hubungi pustakawan institusi ini.