Proceedings of the IEEE, Vol.103 No.12, December 2015

oleh Hansen, J. F., Wendt, F., Doerry, N., Amy, J., Krolick, C., Chalfant, J., Alexander, D., McCoy, T. J., Wang, F., Zhang, Z., Ericsen, T., Raju, R., Burgos, R., Boroyevich, D., Ginn, H. L., Hingorani, N., Sullivan, J. R., Wachal, R., Kirtley, J. L., Banerjee, A., Englebretson, S., Yanamoto, T., Izumi, M., Yokoyama, M., Umemoto, K., Hebner, R. E., Davey, K., Herbst, J., Hall, D., Surls, D. D., Ouroua, A., Cupelli, M., Ponci, F., Vicenzutti, A.
Terbitan: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2015