: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT: A PUBLICATION OF THE IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT SOCIETY, VOL.52, NO.3, JUNE 2003

oleh H. Shao, A. Ferrero, S. Baglio, D.W. Braudaway, F. Lopez Pena, R. J. Duro, Y. Su, C.R. Allen, D. Geng, D. Burn, U, Brechany, G. D. Bell, R. Rowland, L. Valet, G. Mauris, P. Bolon, N. Keskes, M. Bertocco, S. Capellazo, A. Carullo, M. Parvis, A. Vallan, F. Pianegiane, D. Macii, P. Carbone, G. Moschioni, D. Fischer, , B. Szabados, W.F.S. Poehlman, S. Salicone, C. Bonora, M. Parmigiani, F. Amigoni, A. Brandolini, G.D’ Antona, R. Ottoboni, M. Somalvico, J.L. Crespo, R.J. Duro, S. -S. Xiong, Z. -Y. Zhou, J. Schoukens, W. Jin, S. Qian, E. Foti, T. Antonakopuolos, , E. Ziova, V. Makios, C. -B. Wu, B.-D. Liu, J.-F. Yang, K.-S. Low, M.-T. Keck
Terbitan: THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINERS,Inc, 2003