IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT: A PUBLICATION OF THE IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT SOCIETY, VOL.53, NO.3, JUNE 2004

oleh S. de Waele, L. Angrisani, A. Fort, J. Schoukens, P.M.T. Broersen, M. D'Apuzzo, M. D'Arco, S. Osowski, T. H. Linh, K. Brudzewski, c. Rebai, D. Dallet, P. Marchegay, J. Bojkovski, V. Batagelj, I. Pušnik, J. Drnovšek, M. b.Yeary, R. Fink, D. Beck, D. Guidry, M. Burns, E. Ghiani, N. Locci, C. Muscas, A. Bernier, G. Betta, L. Ferrigno, M. Laracca, A. Baccigalupi, M. Pastorino, , S. Caorsi, A. Massa, A. Randazzo, C. Liguori, A. Paolillo, M. Jaskula, R.Kaszynski, P. Petrovic,, Y.Rolain, W. Van Moer, G. Vandersteen, P.Carbone, n. Machetti, S. Rocchi, M. Serrano Santos, N. Ulivieri, K. Vignoli
Terbitan: THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS,Inc, 2004