IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT: A PUBLICATION OF THE IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT SOCIETY, VOL.54, NO.4, AUGUST 2005

oleh L. Angrisani, W. Winiecki, S. Rapuano, Ottoboni, S. Demidenko, D.Agrez, A. Al Mun, G. Guo, , K. C. Tan, Y.Liu, , S. Baglio, V. Sacco, A. R. Bulsara, M. D'Arco,, M. D'Arco, R. S. Lo Morielle, and M. Vadursi, pp. 1374, L. Angrisani, M. D’arco, and M. vadursi, E. Balestrieri, P. Daponte, F.A. batzias, C. C. Siontorou, E. Bava, N. Beverini, G. Carelli, A. De. Michele, G. Galzreno, E. Maccioni, A. Morreti, M. Prevedelli, F. Sorrentino, And C. Svelto, p. bilski, P. M. Brisley, G. Lu, Y. Yan, S. Cornwell, A. Calderón,, A.L. Virto, J.M. Luque Raigon, C.F.M. Carobbi, S. Lazzerini, L.M. Millanta, R. M. Carter, E. Colinet, J. Juillard,, L. Nicu, C. Bergaud, G. Truglia,, L. De Vito,
Terbitan: THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS,Inc, 2005