IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT: A PUBLICATION OF THE IEEE INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT SOCIETY, VOL.54, NO.4, AUGUST 2005

Main Authors: L. Angrisani, W. Winiecki, S. Rapuano, Ottoboni, S. Demidenko, D.Agrez, A. Al Mun, G. Guo, , K. C. Tan, Y.Liu, , S. Baglio, V. Sacco, A. R. Bulsara, M. D'Arco,, M. D'Arco, R. S. Lo Morielle, and M. Vadursi, pp. 1374, L. Angrisani, M. D’arco, and M. vadursi, E. Balestrieri, P. Daponte, F.A. batzias, C. C. Siontorou, E. Bava, N. Beverini, G. Carelli, A. De. Michele, G. Galzreno, E. Maccioni, A. Morreti, M. Prevedelli, F. Sorrentino, And C. Svelto, p. bilski, P. M. Brisley, G. Lu, Y. Yan, S. Cornwell, A. Calderón,, A.L. Virto, J.M. Luque Raigon, C.F.M. Carobbi, S. Lazzerini, L.M. Millanta, R. M. Carter, E. Colinet, J. Juillard,, L. Nicu, C. Bergaud, G. Truglia,, L. De Vito,
Format: Book
Terbitan: THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS,Inc , 2005
Subjects:
620
Online Access: http://digilib.ubl.ac.id:80/index.php?p=show_detail&id=15473