Analisa Kualitas Proses Produksi Cacat Uji Bocor Wafer dengan menggunakan Metode Six Sigma serta Kaizen sebagai Upaya Mengurangi Produk Cacat Di PT. XYZ
| Main Authors: | Indrawansyah, Irwan, Cahyana, Babay Jutika |
|---|---|
| Format: | Article info application/pdf eJournal |
| Bahasa: | eng |
| Terbitan: |
Universitas Muhammadiyah Jakarta
, 2019
|
| Online Access: |
https://jurnal.umj.ac.id/index.php/semnastek/article/view/5214 https://jurnal.umj.ac.id/index.php/semnastek/article/view/5214/3490 |
Internet
https://jurnal.umj.ac.id/index.php/semnastek/article/view/5214https://jurnal.umj.ac.id/index.php/semnastek/article/view/5214/3490
Lokasi
| Koleksi | Prosiding Semnastek |
|---|---|
| Gedung | Perpustakaan Universitas Muhammadiyah Jakarta |
| Institusi | Universitas Muhammadiyah Jakarta |
| Kota | JAKARTA SELATAN |
| Provinsi | DKI JAKARTA |
| Kontak | Butuh informasi lebih lanjut? Hubungi pustakawan institusi ini. |